연구원 기술지원실은 연구사업 지원을 위해 XRD와 XRF, UTM 등의 분석 장비를 소개하고 시연하는 시간을 3월 30일(월) 연구원내에서 가졌다.
주요 분석 장비에 대한 ‘중앙 집중 지원시스템’ 적용과 지속적인 운영을 위하여 마련된 이번 시연회에서는 올해 신규 도입된 XRF 등 X-ray 장비와 만능시험기인 UTM 등이 소개됐으며 체계적이고 효율적인 연구사업 지원 체계를 선보였다.
※ XRD(X-Ray Diffractometer, 엑스선 회절분석기) : 회절 X선을 이용하여 시료에 함유된 결정성 물질의 종류와 양에 관계되는 정보를 알 수 있는 장치
※ XRF(X-Ray Flourescence Spectrometry, 엑스선 형광분석기) : 시료에 X선을 조사하여 발생하는 형광 X선을 분광시켜 강도를 측정하여 원소에 대한 정보를 알 수 있는 장치
※ UTM(Universial Testing Machine, 만능시험기) : 금속, 세라믹, 고분자 재료 등의 기계적 특성과 변형, 열처리에 따른 재료의 내부 미세조직을 상온에서 고온까지 측정할 수 있는 시험장치
전체 999건의 게시물이 조회되었습니다.
2010.01.05 | 51,559 | |
2009.12.17 | 50,587 | |
2009.12.08 | 50,758 | |
2009.12.08 | 51,948 | |
2009.11.10 | 51,351 | |
2009.08.03 | 50,312 | |
2009.07.28 | 50,264 | |
2009.07.20 | 53,097 | |
2009.07.20 | 49,617 | |
2009.07.09 | 51,658 | |
2009.06.19 | 49,038 | |
2009.06.02 | 50,698 | |
2009.06.01 | 49,485 | |
2009.06.01 | 50,702 | |
2009.05.04 | 50,312 | |
2009.04.22 | 51,614 | |
2009.04.13 | 49,309 | |
2009.03.30 | 48,635 | |
2009.03.20 | 48,512 | |
2009.02.25 | 50,658 |